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論文

照射誘起析出と自由拡散欠陥; 二重イオンビーム照射実験の結果を中心として

岩瀬彰宏

まてりあ, 41(1), p.20 - 27, 2002/01

http://ci.nii.ac.jp/naid/10008836402

合金を高エネルギー粒子照射したときに生ずる溶質原子の析出(照射誘起析出)を支配する自由拡散欠陥(FMD)の生成効率を、Heイオン・重イオン2重ビーム照射下において評価した。その結果、重イオンを同時照射したときのFMD生成効率は、Heイオン単独照射時に比べ、大きく減少した。これは、重イオン照射によって生成されたカスケード損傷が、FMDに対して有効な再結合サイトとして作用したことを意味する。

論文

Reduction of freely migrating defect concentrations by cascade remnants in Ni-Si alloys

岩瀬彰宏; Rehn*; Baldo*; Funk*

Journal of Nuclear Materials, 244(2), p.147 - 152, 1997/00

https://doi.org/10.1016/S0022-3115(96)00734-9

被引用回数：4 パーセンタイル：37.09(Materials Science, Multidisciplinary)

Ni-Si合金中の自由欠陥が、Neイオン照射によって導入されたカスケード欠陥と相互作用し、その結果、自由欠陥濃度が著しく減少することを示した。

論文

Annihilation of freely migrating defects by cascade remnants in Cu-1% Au alloys

岩瀬彰宏; Rehn*; Baldo*; Funk*

Journal of Nuclear Materials, 238(2-3), p.224 - 236, 1996/00

https://doi.org/10.1016/S0022-3115(96)00457-6

被引用回数：10 パーセンタイル：65.24(Materials Science, Multidisciplinary)

Cu-1%Au合金中の自由拡散欠陥(FMD)が、カスケード欠陥と相互作用して消滅し、その結果、FMDの発生効率が著しく小さくなることを実験的に示したものである。